XRF岩屑元素分析仪 GW-4040 - 武汉敢为科技有限公司

GW-4040 XRF岩屑元素分析仪

GW-4040型XRF岩屑元素分析仪是利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。将Ｘ射线荧光分析（ＸＲＦ）用于岩屑录井是目前岩屑分析中最快速最便捷的技术，这项技术的独到之处在于：能过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位．因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。

测量内容：Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等

使用用途：油气开采过程中的岩屑录井检测

产品特点

性能
高性能
优选进口X射线管以及高性能探测器，确保长期的稳定性以及准确度。
快响应
相对于传统的实验室化验等方式，光学检测手段可以一秒内可以进行多次检测。
长寿命
无需耗材，寿命最长可达5-8年，综合使用成本更低。
便携性
相对于传统类的实验室设备，我们的光学设备无需任何耗材以及辅助设备，方便在作业现场进行便携使用。
为了更好的让客户在野外操作，设备还需抗震和牢固，我们首先给设备配备了拉杆式铝合金包装箱，让运输更安全。
其次整体光路模块采用整体不锈钢CNC一体加工，从来稳定性牢固性更好。
准确性
仪器集成了管压检测、温度检测，实时监控腔内的真空压力和温度，确保检测的精度。
真空腔内置过滤隔离装置，仿制待测体的灰尘进入探测器探头和射线管端子，导致污染损坏。
内置步进电机使样品环在检测过程中始终处于旋转状态，提供检测的准确度。

技术指标

分析元素	Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等
探测下限	Al、Si、P、S、Ca：0.01% Ti、V、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn：0.001%
分析范围	0.0001％-100%
能量范围	1-30keV
采样时间	<180s
重复性误差	≤±1%F.S
稳定性	≤±1%F.S
输出信号	RS-232&USB数字输出
配件	真空泵+笔记本电脑+压片机
外壳尺寸	355250380(长宽高)
重量	36Kg

*具体量程可能会有细微偏差。

*工作在温度25℃和1013mbar测试数据。

技术原理

应用领域

GW-4040型XRF岩屑元素分析仪，是本公司针对石油气、天然气、煤层气、页岩气等清洁能源的开采而专门开发的高精度光学岩屑元素分析仪。可以很好的解决人工判断的误差性，以及传统设备的不便捷性，更好了为测录井提供原始数据。该设备小巧无辅助设备，目前在油田得到广大客户的使用。
产品主要用于以下场合：
● 油气钻井岩屑录井；
● 物探岩石检测等。

性能

便携性

准确性

技术原理

光学结构

金属元素的光谱

岩屑成分

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